1、低端运放电流检测方法:
![](http://www.sicmcu.com/wp-content/uploads/2023/04/image-15.png)
分析下原理:
运用运放的虚短特性,既得到了:
V+ = V–;
运用运放的虚断特性,既输入端和输出端没有电流流过。所以R3和R6流过电流相等。
(VOUT-V–)/R3 = V–/R6;
由上面两个式子即可得到
VOUT = V+ * (R3 + R6)/R6;
而又有:
V+ = I * R8;
所以有:
I =V+ / R8 = VOUT * R6/(R3 + R6)/R8;
电流就这样转换出来了,调整好几个电阻的阻值,Vout 用单片机的ADC采样即可。
2、高端电流检测电路
![](http://www.sicmcu.com/wp-content/uploads/2023/04/image-16.png)
这个电路要检测电流最终的目的就是要得到图上VOUT和V1、V2的关系。
先来分析下输入端,虚断可知:
V+/R7 = (V2-V+)/R5;
虚短得到:
V+=V–;
输入负极的一条路电流是相等的:
(V–-VOUT)/R1 = (V1-V-)/R2;
通常在使用该电路的时候有R1 = R7、R2 = R5。
综合上式有:
VOUT = (V2-V1)*R1/R2;
V2-V1 = I*R4;
所以
I = VOUT*R2/(R1*R4) ;
以上是记录及分享内容。
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